Fluke 1550B高壓兆歐表的簡(jiǎn)單使用說(shuō)明

Fluke 1550B高壓兆歐表的簡(jiǎn)單使用說(shuō)明

Fluke1550B高壓兆歐表的特性如下：
可顯示文本的大型液晶顯示屏(LCD)
5 種預(yù)置測(cè)試電壓：250 V、500 V、1000 V、2500 V及 5000 V
可設(shè)置測(cè)試電壓：250 V至 5000 V（50/100 V步增）
電阻測(cè)量：0 Ω 至 1 TΩ
極化指數(shù) (PI) 測(cè)量
介電吸收率 (DAR) 測(cè)量
線性增加 (100 V/步增) 所用測(cè)試電壓的斜率模式
測(cè)試計(jì)時(shí)器和測(cè)試結(jié)果存儲(chǔ)（用戶可設(shè)定 ID 標(biāo)記）
擊穿電壓讀數(shù)
鉛酸充電電池
30 分鐘無(wú)活動(dòng)后自動(dòng)關(guān)閉
紅外 (IR) 端口供下載測(cè)試數(shù)據(jù)
提供 PC 軟件
Fluke1550B兆歐表符合 EN 61557 第 1 和第 2 部分；以及 EN61010-1，CAT III600 V 污染等級(jí) 2 標(biāo)準(zhǔn)。CATIII裝置的設(shè)計(jì)專為在固定的安裝下（如大型建筑內(nèi)的配線板和照明系統(tǒng)），防護(hù)裝置由于瞬變電流而受損

Fluke 1550B高壓兆歐表的操作
開(kāi)啟和關(guān)閉電表：
1. 按 O 開(kāi)啟電表。
Fluke 1550B兆歐表將執(zhí)行自檢、自校準(zhǔn)、顯示當(dāng)前軟件版本，然后進(jìn)入“測(cè)試電壓”模式。
此時(shí)，用戶可以：
更改測(cè)試參數(shù)
開(kāi)始絕緣測(cè)試
查看保存的測(cè)試結(jié)果
下載測(cè)試結(jié)果
2. 再次按 O關(guān)閉電表。
圖片1使用按鍵
使用按鍵可控制電表的操作、選擇要查看的測(cè)試結(jié)果，并上下滾動(dòng)選中的測(cè)試結(jié)果。Fluke1550B高壓兆歐表MegOhmMeter（以下簡(jiǎn)稱“電表”）是一個(gè)高壓絕緣測(cè)試儀，用于測(cè)試包含配電器、馬達(dá)和電纜等一般性電路。

Fluke 1550B高壓兆歐表使用保護(hù)端子

在 + 與 ? 輸出連接之間測(cè)量絕緣電阻。保護(hù)端子 (G) 和負(fù) (?) 端子的電位相同，但不在測(cè)量路徑上。
在大多數(shù)測(cè)試中，僅使用兩個(gè)測(cè)試導(dǎo)線，將電表上的正 (+) 和負(fù) (?) 端子連接至被測(cè)電路。此時(shí)并未連接保護(hù) (G) 端子。
當(dāng)測(cè)量非常大的電阻時(shí)，通過(guò)使用保護(hù)端子進(jìn)行三線測(cè)量，可以取得更**的讀數(shù)。保護(hù)端子和負(fù)(?)端子的電位相同，且可以用來(lái)防止表面漏電或其它不希望的
漏電流而影響絕緣電阻測(cè)量的**度。
圖5顯示如何測(cè)量從導(dǎo)體之一至外部屏蔽的電阻。此時(shí)，內(nèi)部絕緣接近電纜端頭處的表面有漏電。該漏電也在負(fù)端子測(cè)到的電流中，會(huì)導(dǎo)致電表讀出比實(shí)際讀數(shù)低的電阻值。

顯示如何將保護(hù)端子的導(dǎo)線連接至環(huán)繞內(nèi)部絕緣的導(dǎo)體，從而避免發(fā)生表面漏電。表面漏電流將被導(dǎo)向至保護(hù)端子。這樣能消除正負(fù)端子間測(cè)量路徑上的漏電，改善測(cè)試讀數(shù)的**度

Fluke1550B高壓兆歐表顯示如何通過(guò)連接保護(hù)端子至未使用的電線，將它與內(nèi)部絕緣相連，從而改進(jìn)測(cè)量設(shè)置。這樣可以確保電表測(cè)量選中的導(dǎo)體和外部屏蔽間的漏電，但切斷了導(dǎo)體間的漏電路徑。

Fluke 1550B高壓兆歐表開(kāi)啟和關(guān)閉電表。
BHFunction（功能）按鈕：在“測(cè)試電壓”模式，“功能”按鈕會(huì)在測(cè)試電壓選擇項(xiàng)、斜率測(cè)試設(shè)置、時(shí)限設(shè)置和結(jié)果（內(nèi)存功能）之間滾動(dòng)。在查看結(jié)果時(shí)，使用“功能”按鈕選擇要查看或刪除的屏幕。
C V
Up（向上）按鈕：可在測(cè)試電壓、保存的測(cè)試結(jié)果、計(jì)時(shí)器持續(xù)時(shí)間之間滾動(dòng)，并選擇標(biāo)記ID字符。也可用來(lái)回答是/否提示時(shí)的“是”。
DRScroll（滾動(dòng)）按鈕：選擇內(nèi)存位置后，使用“滾動(dòng)”按鈕顯示保存在內(nèi)存中的測(cè)試參數(shù)和測(cè)試結(jié)果。包括電壓、電容、極化指數(shù)、介電吸收率和電流等。
E d（否）
Down（向下）按鈕：可在測(cè)試電壓、保存的測(cè)試結(jié)果、計(jì)時(shí)器持續(xù)時(shí)間及內(nèi)存位置之間滾動(dòng)。也可用來(lái)回答是/否提示時(shí)的“否”。FeEnter（輸入）按鈕：用于從 RESULTS 功能訪問(wèn)保存的數(shù)據(jù)（內(nèi)存位置）。也可用于從 TESTVOLTAGE功能啟用測(cè)試電壓在250 V和 5000 V之間的增量設(shè)置。G T Test（測(cè)試）按鈕：開(kāi)始和停止測(cè)試。按住按鈕1秒鐘，開(kāi)始測(cè)試。再次按下按鈕，停止測(cè)試